主な特徴
■ 文字と記号の自動検出
■ ユーザ定義の数学的解析
■ マルチレイヤー構造
■ 合格/不合格判定、多種欠陥判定
■ 埋め込みスクリプト機能
■ さまざまな座標空間サポート
■ o極座標(θ、φ)、o方形角(θH、θV)、およびo線形寸法(m、cm)
■ テンプレートファイルの作成、保存、デプロイ
■ 異なるAOIの一連の測定値を同一グラフ上にデータプロット
■ 測定値全体又は選択可能レベルの特定領域における3D表面プロット
■ カスタマイズ可能なレポート作成
■ CIE 1931(xy)および1976(u'v ')色度プロット
■ オプションのソフトウェア開発キット(SDK)
■ ユーザ定義の数学的解析
■ マルチレイヤー構造
■ 合格/不合格判定、多種欠陥判定
■ 埋め込みスクリプト機能
■ さまざまな座標空間サポート
■ o極座標(θ、φ)、o方形角(θH、θV)、およびo線形寸法(m、cm)
■ テンプレートファイルの作成、保存、デプロイ
■ 異なるAOIの一連の測定値を同一グラフ上にデータプロット
■ 測定値全体又は選択可能レベルの特定領域における3D表面プロット
■ カスタマイズ可能なレポート作成
■ CIE 1931(xy)および1976(u'v ')色度プロット
■ オプションのソフトウェア開発キット(SDK)
測定機能
Photometrica®は、Westboro Photonicsの輝度計と色彩輝度計の両方を制御します。 ソフトウェアによって提供される標準量には、下記の通りです。
■ 輝度
■ 照度
■ 光度
■ 全光束
■ 放射輝度
■ 分光放射輝度
■ 放射照度
■ 放射強度
■ 全放射束
■ CIE色度座標(xyおよびu'v ')
■ 相関色温度(CCT)
■ 主波長
■ 純度
■ ΔE
■ コントラスト
■ ガンマ
■ 照度
■ 光度
■ 全光束
■ 放射輝度
■ 分光放射輝度
■ 放射照度
■ 放射強度
■ 全放射束
■ CIE色度座標(xyおよびu'v ')
■ 相関色温度(CCT)
■ 主波長
■ 純度
■ ΔE
■ コントラスト
■ ガンマ