シリーズ毎の特徴
主な仕様
※1 logモード時の値
※2 High gainモード時の値
※2 High gainモード時の値
New Imaging Technologies社 独自開発のセンサーについて
New Imaging Technologies（NIT）社では15年以上にわたる研究開発の実績に基づき、カメラをセンサーから設計、開発、製造しております。
他社にない独自のイメージングセンサーは、これまで様々なOEM製品向けにも使用されております。
センサー単位でのご提供については、弊社までご相談ください。
他社にない独自のイメージングセンサーは、これまで様々なOEM製品向けにも使用されております。
センサー単位でのご提供については、弊社までご相談ください。
アプリケーション例
■ サーモグラフィー
NIT社は、新しいイメージング技術で、ハイダイナミックレンジを持つInGaAsセンサーを完成させました。120dBのハイダイナミックレンジを達成する対数応答型のセンサーは、250°C～3000°Cの温度変化でも、シーン全体をサチレーションを起こすことなく撮像できます。ガラス産業では、1,000°Cで溶融したガラスの滴と、300°Cに維持されたコンテナの中のガラスを、特別な操作なく、1台のカメラで確認することができます。
NIT社は、新しいイメージング技術で、ハイダイナミックレンジを持つInGaAsセンサーを完成させました。120dBのハイダイナミックレンジを達成する対数応答型のセンサーは、250°C～3000°Cの温度変化でも、シーン全体をサチレーションを起こすことなく撮像できます。ガラス産業では、1,000°Cで溶融したガラスの滴と、300°Cに維持されたコンテナの中のガラスを、特別な操作なく、1台のカメラで確認することができます。
■ 半導体の検査
SWIR波長帯は半導体検査のための最良の波長領域の1つとして認識されています。ウェハーや太陽電池パネル上のクラック・欠陥の検出、また集積回路の故障解析にも、InGaAs波長(900nm～1700nm)はシリコン内部を透過するため適しています。NIT社では、センサーの開発・製造をしているため、低コストかつ高性能を実現します。
■セキュリティー監視
Gated imagingモードでは、特定の深度（距離）のスライス画像を取得できます。アプリケーションは、セキュリティー監視だけでなく、見通しの悪い環境(厳しい気象条件)での観測や距離の推定、障害物の位置特定など様々です。 NIT社のWiDy SenSは、最短の有効露光時間、最短の立ち上がり時間、最高のダイナミックレンジを備えた精度を同時に提供します。
■ 絵画の検査 / 熱量の検知 / 高温ガラスの検査
＜動画＞
■ ウェハ検査
■ レーザー溶接観察
■ 霧の可視化
システム要件
