Uniformity Spot
視野内の1つまたは複数のディスプレイを自動的に探し出し、任意で設定したAOI(関心領域)の最大/最小輝度を高速に自動検出します。
Styling Line
AOI(関心領域)の形状、大きさの単位（mm、cm、インチ、ピクセル）、配置とピッチ（AOI間の距離）を設定し、直線や曲線上に関心領域（AOI）の作成が非常に簡単にできます。
Beam Pattern
光源の輝度（または放射輝度）および色特性の測定と分析が可能です。透過型または反射型での測定が可能になり、基準光源と専用治具も取り扱いがございます。
Display Testing
視野内に1つまたは複数のディスプレイを自動的に探し出し、任意で設定した閾値と測定項目を元に、半自動又は全自動でディスプレイ測定の合否判定が可能になります。また、ユーザーはSDKを使用して独自の表示テストを実行することもできます。使用可能なテストには、輝度の均一性、色の均一性、ガンマ、色域、コントラストが含まれます。
主に以下の欠陥検出が可能です。
・輝点/欠点
・縦線/横線
・クラウドムラ
・エッジムラ
・DFFブラックムラ
主に以下の欠陥検出が可能です。
・輝点/欠点
・縦線/横線
・クラウドムラ
・エッジムラ
・DFFブラックムラ
Light Plate Balancing
最大10 Hzの動画輝度測定が可能です。
こちらの動画では均一性測定の一例をご紹介します。
