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ネプコンジャパン－第36回 エレクトロテスト ジャパン－ 出展のお知らせ｜株式会社 ティー・イー・エム
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ネプコンジャパン－第36回 エレクトロテスト ジャパン－ 出展のお知らせ
株式会社プロリンクスは、1月16日（水）～1月18日（金）東京ビッグサイトで開催される
【ネプコンジャパン－第36回 エレクトロテスト ジャパン－】に出展いたします。(弊社小間番号：E18-11)
2次元色彩輝度計をはじめ、測定に関わる様々な製品をご紹介予定です。
出展製品は新製品・新技術も多数取り揃えております。
＜出展の見どころ＞
【Westboro Photonics社：2次元色彩輝度計…解像度12Mピクセル、高速測定】
2次元色彩輝度計(WPシリーズ)は最大12Mピクセルのラインナップ。
R&Dや生産環境において高精度、高信頼性の要求に対応する事を構築する機器です。
フラットパネルディスプレイ、バックライトキーボード、車載パネルグラフィックスの
ピクセルレベル測定を、高速、高信頼性で測定する事が可能です。
また、2次元輝度計(Smartシリーズ)は最大12.3Mピクセルまでラインナップがあり、
最新のソニー製CMOSセンサーを使用した、高度なデジタルイメージセンサーを基にしております。
コンパクト、ポータブル、軽量で、比類のない性能を発揮いたします。
デモ機の出展もしております。
【Admesy社：レーザー光の色彩輝度測定・光源の色彩輝度/フリッカ/応答性測定】
小型ディスプレイ専用、最大16Mピクセル2次元色彩輝度測定器『Atlas(アトラス)』。
第3世代目となるAtlasは、複数のディスプレイのムラ測定メニューを標準搭載しております。
CMOSセンサ採用により測定時間はCCDセンサモデルと比較して大幅に短縮されております。
必要な機能のカスタマイズは柔軟に対応出来ます。デモ機も出展いたします。
フリッカや応答時間、ガンマ測定、分光測定をお探しの方必見の
スポット輝度計『Asteria』、色彩輝度計『MSE』/『Hyperion』、分光器『Hera』も出展します。
【シンテック社：マルチチャンネル分光型偏光解析システムOPTIPRO-MCS】
先代のOPTIPROを前面改良して昨年リリースした解析システムです。
フィルム等の位相差や偏光パラメータ、分光測定を1台でこなします。
透過率測定や、視野角測定なども出来るため、光学フィルムの測定では重宝いただける装置です。
デモ機を展示いたしますので、実際の稼働状態をご覧いただくことが出来ます。
出展情報は下記URL先からもご覧いただけます。：
○展示会概要○
・開催展名：ネプコンジャパン－第36回 エレクトロテスト ジャパン －
・会期：2019 年1 月16 日（水） - 18 日（金）10:00-18:00（最終日のみ17:00まで）
・場所：東京ビッグサイト
・弊社ブース番号：E18-11
・オフィシャルHP：http://www.electrotest.jp/ja-jp.html
※下記URLより会場案内図をご覧いただけます。
事前に弊社ブース位置をご確認ください。：http://www.electrotest.jp/ja-jp/visit/map.html
e-チケットは下記のURLからダウンロードいただけます。
プリントアウトし、会場までお名刺二枚と一緒にご持参ください。：
※ご入場には招待券がお１人につき１枚必要です。
何かご質問等ございましたらお気軽にお問合せくださいませ。
皆様のご来場をお待ちしております。
2018.12.26